Bernd Dudenhöfer, Philipp Rückert

• In den Jahren ab 1959 wurde an der Technischen Universität Berlin von B. Wehner und seinem Assistenten K.-H. Schulze eine Prüfeinrichtung entwickelt, mit der die Polierresistenz von groben und feinen Gesteinskörnungen ermittelt werden konnte. Ende der 1990er Jahre waren die noch existierenden Prüfeinrichtungen nicht mehr gebrauchstauglich. Dies bewog 1999 dazu, einen modernisierten Nachbau unter Beibehaltung wesentlicher Maschinenparameter durchzuführen. Bei Vergleichsuntersuchungen stellte sich heraus, dass mit den Prüfeinrichtungen der 2. Generation ein abweichendes Messwerte-Niveau ermittelt wird. Um den aus einer Vielzahl von Forschungsarbeiten aufgestellten Bewertungshintergrund und die daraus abgeleiteten Anforderungswerte weiter nutzen zu können, musste dieser auf die neue Gerätegeneration übertragen werden. Durch Untersuchungen an unterschiedlichen Prüfkörnungen verschiedener Gesteine wurde der Erwartungsbereich für die Polierwerte PWS ermittelt und damit ein Bewertungshintergrund aufgestellt. Durch die Vergleichsuntersuchungen an den Rückstellproben aus der TU Berlin konnte für die Prüfkörnungen 8/11 und 0,2/0,4 mm eine direkte Übertragung von bestehenden Anforderungswerten auf die aktuelle Gerätegeneration vorgenommen werden. Die Unterschiede in den Messwerte-Niveaus zwischen den Gerätegenerationen konnten quantifiziert werden. Die Spreizung der Polierwerte bleibt trotz dieser Veränderung gleich. Um einen aktuellen Vergleich zwischen den Polierverfahren PWS und PSV herzustellen, wurden Gesteinskörnungen aus Lagerstätten aufgenommen, die auch in einer parallel laufenden PSV-Forschungsarbeit genutzt wurden. Für die 2. Gerätegeneration der Prüfanlage Wehner/Schulze wurde somit erstmalig ein Zusammenhang zum Polierverfahren PSV hergestellt. Es wird empfohlen, den bestehenden Anforderungswert für die Polierresistenz von feinen Gesteinskörnungen in Deckschichten aus Beton auf Grund der durchgeführten Untersuchungen anzupassen und die vorgeschlagenen Anforderungswerte für die groben Gesteinskörnungen durch eine Datensammlung abzusichern.
• In the years since 1959, B. Wehner and his assistant K.-H. Schulze developed a testing device at the Technical University of Berlin that could determine the polishing resistance of coarse and fine aggregates. By the late 1990s, however, these extant testing devices were no longer fit for use. This prompted the university in 1999 to create an updated redesign that retained the essential machine parameters. Comparison studies demonstrated that a deviating measured value level results from the 2nd generation testing devices. In order to continue to use the valuation background from numerous research projects and the specification values derived thereof, this background had to be transferred to the new device generation. Tests on different test grit sizes of different rocks determined the expectancy range for the PWS polished stone values and thus established a valuation background. The comparison studies on TU Berlin's reference samples could directly transfer the existing specification values to the current device generation for the 8/11 and 0.2/0.4 mm test grit sizes. It was possible to quantify the differences in the measured value levels between the device generations. Despite this change, the spread of the polished stone values remains the same. In order to make a current comparison between the PWS and PSV polishing methods, aggregates were taken from deposits that were also used in a parallel PSV research project. For the first time, a correlation with the PSV polishing method was established for the 2nd device generation of the Wehner/Schulze testing device. Because of these tests, it is recommended to adapt the existing specification value for the polishing resistance of fine aggregates in road surface course layers made of concrete and secure the proposed specification values for the coarse aggregates with a data collection.